Steiner Elektronik GmbH
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Automatische Optische Inspektion


  • Automatische Optische Inspektion (AOI) mit einem Hochleistungs-System VantageTM S22 von Orbotech
  • Prüfgeschwindigkeit von 20 сm2/Sekunde ohne die Taktzeit
  • Echte 3D Bildaufnahme durch Hochauflösungskamera – 1 oben und 4 seitlich angeordnet
  • Erfassung von anwesenden und fehlenden Bauteilen, Lotmangel
  • Bestückungsgenauigkeit und Polarität der Bauteile
  • Überwachung auf Grabsteineffekt (tombstone effect), abgehobene Anschlüsse (fillet lifting), Kurzschlüsse
  • Optische Kennzeichenerkennung (OCR)
  • Testmöglichkeit bei Objekte mit maximaler Größe bis zu 450х405 mm